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PID測試標準介紹
- 分類：技術支持
- 作者：
- 來源：
- 發布時間：2018-01-27 16:53
- 訪問量：
【概要描述】光伏應用越來越多,電站規模越來越大，太陽能電池組件問題也暴露的越來越多，功率降低、絕緣性差、脫層等現象不斷出現。經過人們多年的研究發現，組件應用過程中出現問題的很大一部分原因是因為內部導電體與大地之間（通過邊框）之間存在泄漏電流
PID測試標準介紹
【概要描述】光伏應用越來越多,電站規模越來越大，太陽能電池組件問題也暴露的越來越多，功率降低、絕緣性差、脫層等現象不斷出現。經過人們多年的研究發現，組件應用過程中出現問題的很大一部分原因是因為內部導電體與大地之間（通過邊框）之間存在泄漏電流
- 分類：技術支持
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- 發布時間：2018-01-27 16:53
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詳情
一、情況說明
光伏應用越來越多，電站規模越來越大，太陽能電池組件問題也暴露的越來越多，功率降低、絕緣性差、脫層等現象不斷出現,經過人們多年的研究發現，組件應用過程中出現問題的很大一部分原因是因為內部導電體與大地之間（通過邊框）之間存在泄漏電流。長期泄漏電流會造成電池片載流子及耗盡層狀態發生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學腐蝕等問題，從而導致電池片功率衰減、串聯電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發電量及壽命的現象。對組件來說，泄漏電途徑如下圖所示 ：
泄漏電的途徑主要經過玻璃（I1）、EVA與玻璃的界面（I2）、EVA（I3）、背板材料（I4）和邊框密封材料等到達邊框 .
二、標準簡介
PID測試標準引自IEC 82/685/NP：System voltage durability test for crystalline silicon modules，基本要求是準備3塊組件。其中一塊作為控制組件，組件置于一定溫度和濕度的環境中，將組件的內部導電體與高壓電源的一個極連在一起，組件外導電體與高壓電源的另一極連在一起。一塊組件在正偏壓下進行老化，一塊組件在負偏壓下老化。測試條件如下：環境溫度：60℃±2℃；環境濕度：85%±5% RH.
測試時間：96小時；測試電壓：在組件需滿足的正系統電壓下或負系統電壓下。組件老化前需經過光老化、外觀檢測、最大功率測試、絕緣測試、接地連續性測試（如果組件有外漏導電體），老化后需進行濕漏電測試、最大功率點測試、外觀檢測、絕緣測試。具體測試序列見下圖所示：
三、目前光伏行業測試條件
1)在25℃的溫度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔，1000V直流電施加在組件的輸出端和鋁框上168小時.
2)組件先進行85%的濕度85℃高溫測試，然后在60℃或85℃的環境下100小時，將1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上96-196小時.
3）組件測試條件加嚴至溫度85℃、相對濕度85%，負壓1000V直流電壓環境，測試時間為96h及以上.
四、蘇州度辰抗PID膠膜研發情況
我司推出的SFX-D系列產品，目前采用雙85實驗條件，負壓1000V，測試時間96h，衰減功率5%以內。
我司推出的POE系列產品，目前采用雙85實驗條件，負壓1000V，測試時間500h，衰減功率5%以內。
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無
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減少太陽能板效率損失的方法
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發布時間：2018-01-26 00:00:00
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